Langer E1 Set PCB Bağışıklık Test Sistemi
E1 Bağışıklık Test Sistemi elektronik kartların geliştirme aşamasında Burst/ESD gibi eletktromanyetik darbe girişimlerine karşı bağışıklığının testi için kullanılan bir hata ayıklama araç setidir. Kart üzerinde bölgesel olarak darbe halinde akım, elektrik alan ya manyetik alan uygulanarak zayıf noktaların bulunmasını sağlar. EMC testlerinden geçemeyen cihazlarda hata durumlarının tekrarlanarak sorunun kök nedenini bulmak için kullanılabilir.
Bir yandan girişim sinyalleri karta uygulanırken diğer taraftan S21 sensör ve fiber optik kablo ile şüpheli noktalardaki girişim miktarı minimum etkileşim ile izlenebilir.
SGZ 21 Burst Generator ile doğrudan pcb hatlarına (örn. Ground Plane) akım uygulanabileceği gibi, aşağıdaki problar kullanılarak manyetik ya da elektrik alan olarak uygulanabilir.
Langer E1 Set PCB Bağışıklık Test Sistemi
S21 Optik Sensör | |
İletim menzili | DC...10 Mbps |
Optik fiber konnektör | 2.2 mm Ø |
Besleme gerilimi | (3-5) V |
Akım girişi | 10 mA |
SGZ 21 Burst Generator | |
Darbe Parametresi | |
Yükselme Süresi | ca. 2 ns |
Tail time | ca. 10 ns |
Tepe değeri | ca. 0...1500 V |
Optik giriş | |
Optik Fiber | 2.2 mm |
Maksimum frekans | 5 MHz |
Min. darbe genişliği | 100 ns |
Besleme gerilimi | 12 V / 200 mA |
Boyutlar (U x G x Y) | (154 x 100 x 62) mm |
Measuring principles |
Langer E1 Set PCB Bağışıklık Test Sistemi
1x SGZ 21, Burst Generator |
1x S21, Optik Sensör (10 Mbps) |
1x BS 02, Manyetik Alan Probu |
1x BS 04DB, Manyetik Alan Probu |
1x BS 05D, Manyetik Alan Probu |
1x BS 05DU, Manyetik Alan Probu |
1x ES 00, E-Field Probu |
1x ES 01, E-Field Probu |
1x ES 02, E-Field Probu |
1x ES 05D, E-Field Probu |
1x ES 08D, E-Field Probu |
1x MS 02, Manyetik Alan Prob'u |
1x E1 acc, Aksesuarlar |
1x NT FRI EU, Güç Kaynağı Ünitesi |
1x E1 case, Sistem Kutusu |
1x E1 m, E1 Seti Kullanıcı Kılavuzu |
Doküman İsmi | Tarih | İndirme | Boyut | İndir |
---|---|---|---|---|
Langer E1 Set PCB Bağışıklık Test Sistemi | 05/12/2024 09:12:24 | 16 | 1,49 MB | İndir |