Langer ICR HV250-75 Set, Yakın Alan Mikroprobu 0,5 MHz - 2 GHz Set

Yakın alan mikroprobu, manyetik yakın alanların yüksek çözünürlüklü ölçümü için tasarlanmıştır. ICR H probu ile aşağıdaki ölçümler yapılabilir:

• IEC 61967-3'e göre IC üzerinden Yüzey Taraması
• IC üzerinden Hacim Taraması
• Pin Taraması

ICR RF prob başlığındaki ölçüm bobini, ölçüm yüzeyine dikey olarak hizalanmıştır.
Prob muhafazasına bir ön amplifikatör entegre edilmiştir ve Bias-Tee ile çalıştırılır.
ICR yakın alan probları teslim edilmeden önce bir kalite kontrolünden geçer. Farklı referans kurulum ölçümleri gerçekleştirilir ve ortaya çıkan düzeltme çizgileri oluşturulur. Üç farklı düzeltme çizgisi belirlenir: standartlaştırılmış bir düzeltme çizgisi, bir H-alan düzeltme çizgisi ve bir akım düzeltme çizgisi.

Dikkat: ICR probu yapısı gereği darbeye karşı hassastır ve taşıma ve kullanım için koruyucu bir kapakla birlikte gelir.